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  产品目录
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-手持方块电阻测试仪
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-C-V测试仪
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-粉末压片机
-测试软件
 
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HP系
 


HP-501型四探针探头


HP-504型四探针探头
    HP系列四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
◆ 特性及规格
1
 特制之手握式探笔
2
 球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤
3
 探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏
4
 探头使用寿命长
5
 探针间距:1mmm、1.59mm、3.8m;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ
 
◆ 可选配HP系列四探针探头的型号及规格
型号
(Model)
曲率半径
(Radius)
压力
(loads)
探针间距
(spacing)
探针排列
(Arrangement)
HP-501
0.5mm
100g
3.8mm
直线
HP-502
0.75mm
100g
3.8mm
直线
HP-503
0.1mm
150g
1mm
直线
HP-504
0.5mm
100g
1.59mm
直线
 
下载HP系列四探针探头产品资料(PDF)
 
 
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