*.探针台与测试仪器配接后可用于集成电路芯片   及各种晶体管芯的电参数测试及功能调试，适   用于科研、新品试制及小批量生产的中间测试
*.工作台面：300mm*230mm；载物台直径：4''
*.放大倍数：50-100倍；
*.轴向转角：0-360°，并可由旋钮微调±60°
*.探针调整架：X、Y、Z三维微调0-7mm
*.探针架座：任意位置固定

*.特性和规格跟ST-102A一样，不同处ST-102A用   显微镜监测、ST-102B用CCD+监视器

*.专为实验室使用而制作的。该测试台设计别　  致、操作简易、重量轻、并有微调手轮，便　  于探针与样品的精确接触。
*.载物台：方盘140mm*150mm,带刻度线，便于　  准确定位。
*.有效行程：40mm、重量：2kg
*.粗调手轮：20mm/圈、微调手轮：0.2mm/圈。

*.专为晶圆测试而特别制作的，最大可测8寸晶   圆，盘面带刻度线便于晶圆定位。
*.载物台：有效范围210mm×250mm
*.有效行程：常规250mm，可增加到1000mm
*.粗调手轮：20mm/圈
*.重量3.5kg

*.电动测试台
*.样品台直径150mm
*.有效行程：50mm

*.手动测试台
*.样品台直径100mm
*.有效行程170mm

*.手动测试台
*.样品400mm*500mm.
*.有效行程220mm