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全系列手持式方块电阻测试仪区别表(点击此链接查看)
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品名
ST-21型方块电阻测试仪
价格
6000/套
特点/规格

*.四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,按国家   标准和美国A.S.T.M标准设计,专门测量半导体   薄层电阻(表面电阻率)的新型仪器。 可用于   测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO导电膜玻   璃)、金属膜……等同类物质的薄层电阻(表面   电阻率)。
* 轻便手持式设计操作、测试简便;
*.特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接   触被测材料及保护薄膜;
*.以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;
*测量范围:按方块电阻量值大小分为二个量程档
  1.方块电阻 1.00~199.99Ω/□;
  2.方块电阻 10.0~1999.9Ω/□;
*最小分辨率:0.01Ω/□

 
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品名
ST-21H型方块电阻测试仪
价格
6000/套
特点/规格

*测量范围:按方块电阻量值大小分为二个量程档
  1.方块电阻 1.0~1999.9Ω/□;
  2.方块电阻 10~19999Ω/□;
*最小分辨率:0.1Ω/□

 

 

 

 

 
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品名
ST-21L型方块电阻测试仪
价格
6500/套
特点/规格

*测量范围:按方块电阻量值大小分为二个量程档
  1.方块电阻 1.000~19.999Ω/□;
  2.方块电阻 10.0~199.99Ω/□;
*最小分辨率:0.001Ω/□

 

 

 

 

 
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品名
ST-20掌上型方块电阻测试仪
价格
5000/套
特点/规格

*.是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准   而设计专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型   仪器。 可用于测量一般半导体材料、导电薄膜   (ITO透明氧化膜)、金属膜……等同类物质的薄   层电阻。
*.测量范围:
   基本量程:方块电阻 10.0—199.9(Ω/□)
   扩展量程:方块电阻 100—1999(Ω/□)
*.体积:130*65*23、低功耗;

 
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品名
RTS-3型四探针测试仪
价格
8500/套
特点/规格

*.根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国   A.S.T.M标准设计的专用于测量硅晶块、晶片电   阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡   胶等材料方块电阻的手持式仪器;
*.体积仅为:185mm(长)*90mm(宽)*30mm(高);
*.测量范围 - 电阻率:0.01~1999.9Ω.cm;  
            方块电阻:0.1~19999Ω/□;
*.锂电池供电,一次充电可连续使用100小时;

 
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品名
XX-2型方块电阻测试仪
价格
6000/套
特点/规格

*.用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧   化膜)……等同类物质的薄层电阻。
* 以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;
*.测量范围;
   基本量程:方块电阻 1.00—199.99(Ω/□)
   扩展量程:方块电阻 10.0—1999.9(Ω/□)

 
品名
SRM-232型方块电阻测试仪
价格
30000
特点/规格

*.轻便手持式设计;
*.127个数据测试点保存;
*.通过RS-232与电脑通讯;
*.测量范围(四种型号的产品不同的测量范围):
  0.000~9.999 (Ω/□)-SRM-232-10
  00.00~95.00 (Ω/□)-SRM-232-100
  0~1000(Ω/□)-SRM-232-1000
  0~2000(Ω/□)-SRM-232-2000

 
 
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品名
HP系列四探针探头
价格
960/个
特点/规格

*.特制之手握式探笔;
* 球形探针、镀金探针;
*.有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤;
*.探头带抗静电模块;
◆ 可选配HP系列四探针探头的型号及规格:
型号
曲率半径
压力
探针间距
探针排列
HP-501
0.5mm
100g
3.8mm
直线
HP-502
0.75mm
100g
3.8mm
直线
HP-503
0.1mm
150g
1mm
直线
HP-504
0.5mm
100g
1.59mm
直线

 
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品名
SP-601型方形四探针探头
价格
960/个
特点/规格

*.专用于测量小样品;
* 球形探针、镀金探针;
*.有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤;
*.探头带抗静电模块;
◆ SP-601型方形四探针探头规格:
型号
曲率半径
压力
探针间距
探针排列
SP-601
0.5mm
100g
1.59mm
方形

 
品名
SP-2型四探针探头
价格
8000/个
特点/规格

*.探针材质碳化钨;
* 针尖直径可选:1.6mil、5mil、10mil;
*.探针间距可选:40mil、50mil、62.5mil;
*.探针压力可选:45克、85克、180克;

 
 
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