半导体测试行业的倡导者和领导者-提供专业半导体测试解决方案
 
销售电话:020-31375051 020-37097519 13544546431 联系人:方滨
传真:020-35686363      邮箱:sales@4probes.com
   
  产品目录
-四探针测试仪
-手持方块电阻测试仪
-导电类型鉴别仪
-少子寿命测试仪
-二探针测试仪
-C-V测试仪
-恒流源
-探针台
-探针头
-探针
-粉末压片机
-测试软件
 
热卖、最新产品
RTS-8四探针测试仪
RTS-9四探针测试仪
RTS-4四探针测试仪
RTS-5四探针测试仪
手持式四探针测试仪
便携式四探针测试仪
RTS-7二探针测试仪
LT-2少子寿命测试仪
PN-12导电类型鉴别仪

PN-30导电类型鉴别仪

ST-21方块电阻测试仪
CV-5000(CV测试仪)
ST-102A探针台
FT-202四探针探头
行业应用
太阳能电池
半导体工艺
电子元器件
功能材料
 
 
ST-21H
 
 
 
    ST-21H型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
    该仪器以大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源;带回路有效正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。
◆ 特点
1
 采用大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定,低功耗;
2
 以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;
3
 采用单个电池供电,带电池欠压指示;
4
 体积≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;
5
 特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜
6
 探头带抗静电模块
 
◆ 技术指标:
测量范围
 按方块电阻量值大小分为二个量程档:
  1.方块电阻 1.0~1999.9Ω/□;
  2.方块电阻 10~19999Ω/□;
 最小分辨率:0.1Ω/□;
恒流源
 测量过程误差:≤±0.8%
模数转换器
 量程:0~199.99mv;
 分辨率:10μv;
 方式:LCD大屏幕显示;极性,超量程均自动显示;小数点同步显示;
测量不确定度
 在整个量程范围内,测量不确定度≤5%
四探针探头规格
 间距:1mm、1.59mm、3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ
电源
 9V叠层电池1节
 
◆ ST-21H方块电阻测试仪可选配HP系列四探针探头的型号及规格
型号
(Model)
曲率半径
(Radius)
压力
(loads)
探针间距
(spacing)
探针排列
(Arrangement)
HP-501
0.5mm
100g
3.8mm
直线
HP-502
0.75mm
100g
3.8mm
直线
HP-503
0.1mm
150g
1mm
直线
HP-504
0.5mm
100g
1.59mm
直线
 
◆ ST-21H方块电阻测试仪可选配SP-601型方型四探针探头的型号及规格
型号
(Model)
曲率半径
(Radius)
压力
(loads)
探针间距
(spacing)
探针排列
(Arrangement)
SP-601
0.5mm
100g
1.59mm
方形
 
下载ST-21H型方块电阻测试仪产品资料(PDF)
返回方块电阻测试仪产品目录

 

 
 广州四探针科技官方网站
©1998-2016 广州四探针科技有限公司 版权所有