ST-102A型探针测试台（英文叫Prober station,中文又称中测台,点测机。)、与测试仪器配接后可用于集成电路芯片及各种晶体管芯的电参数测试及功能调试，适用于科研、新品试制及小批量生产的中间测试。

主要技术指标
1.  工作台面：300mm*230mm；
2 . 载物台直径：4"；
3 . 显微镜显像对准，放大倍数：50-100倍；
4 . 轴向转角：0-360°，并可由旋钮微调±60°；
5 . 探针调整架：X、Y、Z三维微调0～7mm，分辨率±2μ；
6 . 探针调整架座：工作台面任意位置固定 ，由磁性开关控制；
7 . 探针材质硬质合金，针尖曲率半径2μm；
8 . 最多可布可调探头6支；

标准配置：主工作台、显微镜、承片台、三维微调架2个、探针臂2支、探针2支。
可选配件：三维微调架、探针臂、探针、真空泵。

可按用户的实际需求进行订做。