PN-12导电类型鉴别仪
PN-30导电类型鉴别仪
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*.该仪器参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量,是半导体的常规测试项目之一。仪器灵敏度高,配备有红外光源,可测量包括集成电路级硅单晶在内的各种类型硅单晶,以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等; * 测试单晶电阻率范围:>2Ω.cm; * 可测单晶少子寿命范围:5μS-7000μS; *.配备光源类型:红外光源,波长:1.09μm;
*.用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。本仪器根据国际通用方法高频光电导衰退法的原理设计,由稳压电源、高频源、检波放大器,特制的InGaAsp/InP红外光源及样品台共五部份组成; *.测试单晶电阻率范围:>10Ω.cm *可测单晶少子寿命范围:20μS-5000μS;
*.该仪器参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命; *.测试单晶电阻率范围: >0.3Ω.cm; *.可测单晶少子寿命范围: 1μS-10000μS; *.配备光源类型:红外光源,波长:1.09μm; 余辉<1 μS;闪光频率为:20-30次/秒; *.前置放大器:放大倍数约25; *.测量方式:采用对标准曲线读数方式;
*.测试单晶电阻率范围: >0.03Ω.cm *.可测单晶少子寿命范围: 10nS-10mS;
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