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  产品目录
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-手持方块电阻测试仪
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-少子寿命测试仪
-二探针测试仪
-C-V测试仪
-恒流源
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-探针头
-探针
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-测试软件
 
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行业应用
太阳能电池
半导体工艺
电子元器件
功能材料
 
 
ST-20
 
    ST-20掌上型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
◆ 特点
1
 采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定
2
 低功耗
3
 采用单个电池供电,带电池欠压指示
4
 仪器体积仅为:130mmX65mm X23mm
5
 特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜
6
 探头带抗静电模块
 
◆ 技术指标:
测量范围
基本量程:方块电阻10.0-199.9(Ω/口)
扩展量程:方块电阻100-1999(Ω/口)
测量不确定度
≤5%
探针规格
 探针间距:3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ
恒流源
 测量过程误差:≤±0.8%
电源
 9V叠层电池1节
 
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