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RTS-2000型变温四探针测试系统

 
 
    RTS-2000型变温四探针测试系统通过采用四探针双位组合测量技术,利用电流探针和电压探针的组合变换,进行两次电测量,其最后计算结果能自动消除由样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素所引起的,对测量结果的不利影响。因而在测试过程中,在满足基本条件下可以不考虑探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置等影响因素。
测量方式和功能
结合计算机对可程式恒温恒湿试验机的温度控制,实现单段式控温、二段式控温、三段式控温的自由切换和快捷选择。高低温运动机构在系统软件控制下令精密四探针头到达不同测量位置并精确控制探针的压力,有效的保护样品的表面。
系统在测试程序的引导下可进行变温测试,每个温度点都输出样品的方块电阻或电阻率的测量值。不同温度点测量值变化通过2D、3D-Map、等值线图、点值分布图、直方图生动展示出来;
详细的数据统计分析,并将所有数据和分析图表输出到Excel;
9个四探针探头同时下压测试
     RTS-2000型变温四探针测试系统拥有友好操作测试界面,通过此测试程序辅助用户简便地进行各项测试操作,把采集到的测试数据进行数学分析,然后把测试数据以Excel表格,2D、3D等数值图直观地记录、显示出来。方便用户对数据进行各种数据分析,用户可对采集到的数据在电脑中保存或者打印以备日后参考和查看,
点击查看RTS-2000型变温四探针测试系统测试数据详细图例
 
技 术 指 标
 1.系统主要指标

1.1 温度可控范围:-40℃~85℃,配置5个Pt温度传感器,中心1个,其他4个均匀分布。5台温度监视器同时显示各处温度;

1.2 系统配置9个四探针头、9个矩阵模块、9个数据采集模块;

1.3 高低温旋转平台系统耐受温度-60℃~120℃;

1.4高低温直线模组系统耐受温度-60℃~120℃;

1.5 载片台可放置8寸晶片,有notch定位。测量49点对晶圆片进行电阻率和方块电阻分布的测量,绘制出等值线图后,从而直接观察到整个晶圆片的电阻率或方块电阻大小的分布;

1.6 载片台上对应9个四探针头有9个位置可同时放置9个不同的小样品,一次性进行控温测量。相比之前每个样品需单独测试,节省大量的测试时间和人工;

2.四探针测试仪技术指标

2.1 测量范围电阻率:10-5~105Ω.cm;方块电阻:10-4~106Ω/□;电阻:10-5~105Ω;可测晶片直径:200mm(标准),其他尺寸可订做;

2.2 恒流源电流量程分为 1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 六档;

2.3 数字电压表
量程及表示形式:000.00~199.99mV;     
分辨力:10μV;
扩展量程时分辨力:1μV;
输入阻抗:>1000MΩ;
精度:±0.1%;
显示:四位半红色发光管数字显示;极性、超量程自动显示;

2.4 四探针探头基本指标
间距可选:1±0.01mm、1.59±0.01mm;
针间绝缘电阻: ≥1000MΩ;
机械游移率: ≤0.3%;
探针:碳化钨材质,探针直径Ф0.5mm;
探针针尖曲率半径可选:16μm、100μm、200μm、300μm、500μm;
探针压力:4~8 牛顿(总力);

2.5 模拟电阻测量相对误差(按 JJG508-2004进行)
0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字;

2.6 重复性误差≤±0.5%;

2.7 系统在测试程序的引导下可进行变温测试,每个温度点都输出样品的方块电阻或电阻率的测量值。不同温度点测量值变化通过2D、3D-Map、等值线图、点值分布图、直方图生动展示出来。详细的数据统计分析,并将所有数据和分析图表输出到Excel;

3.可程式恒温恒湿试验机技术指标

3.1可程式恒温恒湿试验机的设计、制造、性能满足GB10586、GB10592、GJB4-2-83、GJB4-3-83、GJB4-4-83、 GJB4-5-83等标准,适应于各种器件、部件、模块、单元、分机等不同形式产品的环境应力筛选及性能、材料模拟试验等;

3.2温度: -40℃~150℃;

3.3湿度:20%RH~98%RH;

3.4升降温速率:(空载状态下)升温平均每分钟3℃,降温平均每分钟1℃;

3.5机器精度:
解析精度:温度0.01℃,湿度0.1%RH;
精度:(+/-)1℃,波动度≤0.5℃;湿度: (+/-)2%RH;

3.6 机器尺寸:
内箱尺寸:50cm(W)×60cm(H)×50cm(D);
外箱尺寸: 80cm(W)×166cm(H)×155cm(D) (以实物为准);

 
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