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  产品目录
-四探针测试仪
-手持方块电阻测试仪
-导电类型鉴别仪
-少子寿命测试仪
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-C-V测试仪
-恒流源
-探针台
-探针头
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-粉末压片机
-测试软件
 
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行业应用
太阳能电池
半导体工艺
电子元器件
功能材料
 
 
XX-2
 
   

   XX-2型方块电阻测试仪是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。

◆ 特点
1
 采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定
2
 以大屏幕LCD显示读数,直观清晰
3
 采用单个电池供电,带电池欠压指示
4
 体积≤175mmX92mm X42mm,重量≤300g
5
 可配台式探头和特制之手握式探头,对应可采用台式和手握式操作,使用简易
6
 带探头与被测物质接触良好指示(LED)
7
 单电源开关,推拉式探头-主机接插件,操作极其简便。
 
◆ 技术指标:
测量范围
基本量程:方块电阻1.00-199.99(Ω/口)
扩展量程:方块电阻10.0-1999.9(Ω/口)
测量不确定度
≤5%
探针规格
 探针间距:3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ
恒流源
 测量过程误差:≤±0.8%
电源
 9V叠层电池1节
 
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